그래픽 도구로 사용됩니다. SPC 시간에 따른 공정 변수를 모니터링하는 데 사용됩니다. 공정 평균을 나타내는 중심선(CL)과 상한(UCL) 및 하한(LCL) 관리 한계 사이에 데이터 포인트를 표시합니다. 이러한 한계는 일반적으로 평균에서 3표준편차(μ ± 3σ)로 설정되며, 예상되는 공통 원인 변동 범위를 정의합니다.

(설명을 위한 생성된 이미지입니다)
그래픽 도구로 사용됩니다. SPC 시간에 따른 공정 변수를 모니터링하는 데 사용됩니다. 공정 평균을 나타내는 중심선(CL)과 상한(UCL) 및 하한(LCL) 관리 한계 사이에 데이터 포인트를 표시합니다. 이러한 한계는 일반적으로 평균에서 3표준편차(μ ± 3σ)로 설정되며, 예상되는 공통 원인 변동 범위를 정의합니다.
관리도는 통계적 공정 관리(SPC)의 핵심 도구입니다. 월터 A. 셰워트가 발명한 관리도는 공정에서 일반 원인 변동과 특수 원인 변동을 시각적으로 구분하는 데 사용됩니다. 일반적인 관리도는 시간 기반의 x축과 측정값 기반의 y축으로 구성됩니다. 세 개의 수평선이 중요한데, 이는 공정 데이터의 통계적 평균을 나타내는 중심선(CL), 상한 관리 한계(UCL), 그리고 하한 관리 한계(LCL)입니다. 이러한 관리 한계는 고객이 임의로 설정한 목표값이나 사양 한계가 아닙니다. 오히려 공정 데이터 자체에서 직접 계산되며, 공정의 "목소리"를 나타냅니다.
이러한 한계값에 대한 표준 계산은 공정 평균(μ)과 표준 편차(σ)를 기반으로 하며, 상한 관리 한계(UCL)는 μ + 3σ, 하한 관리 한계(LCL)는 μ ± 3σ입니다. 세 개의 표준 편차를 사용하는 것은 통계적, 경제적 선택으로, 공정 변동을 감지하지 못할 위험(제2종 오류)과 오경보(제1종 오류)의 위험 사이의 균형을 맞추는 것입니다. 데이터 포인트가 이러한 한계 내에 있고 무작위 패턴을 보일 경우, 해당 공정은 '통계적 관리 상태'에 있다고 간주됩니다. 그러나 데이터 포인트가 한계를 벗어나거나, 한계 내의 데이터 포인트가 비무작위 패턴(웨스턴 일렉트릭 규칙과 같은 규칙에 따라 정의됨)을 보일 경우, 이는 조사가 필요한 특수 변동 원인이 존재함을 나타냅니다.
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셰워트 관리도
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