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공정능력지수(Cpk)

1980
Quality control engineer analyzing process capability index in manufacturing.

(설명을 위한 생성된 이미지입니다)

Cpk는 고객이 정의한 사양 한계 내에서 산출물을 생산하는 공정의 능력을 나타내는 통계적 척도입니다. 안정성을 추적하는 관리도와 달리 Cpk는 공정 능력을 정량화합니다. 이는 공정이 사양 한계 내에서 얼마나 중심에 있는지를 측정하고 공정 변동을 고려합니다. Cpk 값이 높을수록 공정 능력이 우수함을 나타냅니다. 공식은 다음과 같습니다. [latex]C_{pk} = minleft[frac{USL – mu}{3sigma}, frac{mu – LSL}{3sigma}right][/latex].

관리도는 공정이 안정적이고 예측 가능한지 여부를 알려주지만, 실제로 고객 요구사항을 충족하는지 여부는 보여주지 않습니다. 이러한 부분을 확인하는 데 공정능력지수가 중요한 역할을 하며, 그중 가장 널리 사용되는 것이 Cpk입니다. Cpk는 '공정의 목소리'(공정의 평균[μ]과 표준편차[σ])와 '고객의 목소리'(상한 규격, USL 및 하한 규격, LSL) 사이의 간극을 메워줍니다. 이 지수는 공정 평균에서 가장 가까운 규격 한계까지의 거리를 구하고, 이를 공정 표준편차의 3배(공정의 자연적인 변동 범위의 절반)로 나누어 계산합니다.

Cpk에서 'k'는 공정 평균이 규격 한계에 얼마나 잘 맞춰져 있는지를 나타냅니다. 완벽하게 중심이 잡힌 공정은 평균이 USL(상한 규격)과 LSL(하한 규격)의 정확히 중간에 위치합니다. 공정 평균이 규격 한계에 가까워지면 전체 공정 변동(분산)이 동일하게 유지되더라도 Cpk 값은 감소합니다. 이는 공정 평균이 규격 경계에 가까워질수록 불량 발생 위험이 증가하기 때문입니다. Cpk 값이 1.0이면 공정이 규격을 겨우 충족하는 수준입니다(정규 분포를 가정할 경우, 소량의 불량이 발생할 수 있습니다). 많은 산업, 특히 자동차 산업에서는 높은 품질 수준을 보장하고 잠재적인 공정 변동에 대한 완충 장치를 마련하기 위해 1.33 또는 1.67의 Cpk 값을 요구합니다.

UNESCO Nomenclature: 1209
통계

유형

추상 시스템

분열

상당한

용법

널리 사용됨

전구체

  • 통계적 공정 관리(SPC)
  • 공학에서 규격 한계의 개념
  • 정규분포 이론
  • 분산의 척도로서의 표준편차

응용 프로그램

  • 공급업체 품질 보증 프로그램
  • 제품 설계 및 공차 설정
  • 프로세스 개선 프로젝트 선정(식스 시그마)
  • 제조 성능 벤치마킹
  • 프로세스 변경 검증

특허:

NA

잠재적 혁신 아이디어

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관련 용어: cpk, 공정 능력, 규격 한계, USL, LSL, 식스 시그마, 품질 지표, 공정 성능, 중심화, 변동.

역사적 맥락

공정능력지수(Cpk)

1980
1980
1980
1980
1986-01-01
1990
1990
1975-06-01
1980
1980
1980
1982-07-01
1988-06-01
1990
1993

(날짜를 알 수 없거나 관련이 없는 경우, 예를 들어 "유체역학"의 경우, 주목할 만한 등장 시기를 대략적으로 추정하여 제공합니다.)

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