(यह छवि केवल उदाहरण के लिए बनाई गई है)
फेज़्ड ऐरे अल्ट्रासोनिक परीक्षण (PAUT) में एक बहु-तत्वीय ट्रांसड्यूसर का उपयोग किया जाता है, जिसमें प्रत्येक तत्व को कंप्यूटर द्वारा निर्धारित सटीक समय विलंब के साथ स्वतंत्र रूप से स्पंदित किया जाता है। इस फेज़िंग को नियंत्रित करके, परिणामी अल्ट्रासोनिक बीम को प्रोब को भौतिक रूप से हिलाए बिना इलेक्ट्रॉनिक रूप से निर्देशित, केंद्रित और स्कैन किया जा सकता है। यह दोषों, विशेष रूप से जटिल ज्यामितियों में, का तीव्र और विस्तृत चित्रण प्रदान करता है, जो पारंपरिक एकल-तत्वीय तकनीकों से कहीं बेहतर है।
The core principle behind PAUT is the constructive and destructive interference of wavelets, as described by Huygens’ principle. A PAUT probe consists of an array of small, individual transducer elements (from 16 to 256 or more). A computer-controlled instrument sends out precisely timed electrical pulses to each element. If all elements are pulsed simultaneously, they produce a standard, straight अल्ट्रासोनिक beam. However, by introducing minute time delays between the firing of adjacent elements, a phase shift is created across the probe’s aperture.
इस फेज़ शिफ्ट के कारण अलग-अलग तरंगें इस प्रकार परस्पर क्रिया करती हैं कि संयुक्त तरंग किसी कोण पर निर्देशित होती है या किसी विशिष्ट गहराई पर केंद्रित होती है। उदाहरण के लिए, सरणी के एक सिरे से दूसरे सिरे तक स्पंदों में क्रमिक विलंब करके, किरण को विभिन्न कोणों से गुजारा जा सकता है, जिससे एक "सेक्टोरियल स्कैन" या एस-स्कैन बनता है। इससे एक ही जांच बिंदु से बड़ी मात्रा में सामग्री का निरीक्षण किया जा सकता है। इसी प्रकार, परवलयिक समय पैटर्न लागू करके, किरण को केंद्रित किया जा सकता है, जिससे इसकी तीव्रता बढ़ती है और किसी विशिष्ट गहराई पर रिज़ॉल्यूशन में सुधार होता है।
This electronic control offers immense flexibility and speed. An entire weld can be inspected rapidly by combining electronic scanning along the array’s length with the angular sweep. The data is often presented in easy-to-interpret 2D or 3D color-coded images (S-scans, C-scans), which provide a more intuitive representation of flaw location and size compared to the simple A-scan of conventional UT.
फेज़्ड ऐरे अल्ट्रासोनिक टेस्टिंग (PAUT)
(यदि तिथि अज्ञात है या प्रासंगिक नहीं है, उदाहरण के लिए "द्रव यांत्रिकी", तो इसके उल्लेखनीय उद्भव का एक अनुमानित आंकड़ा प्रदान किया गया है)
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