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Tecniche di identificazione dei materiali e identificazione positiva dei materiali (PMI)

Tecniche di identificazione dei materiali e identificazione positiva dei materiali (PMI)

Nei settori in rapida evoluzione della produzione, dell'oil & gas e dell'aerospaziale, la comprensione dell'identificazione positiva dei materiali (PMI) è fondamentale per garantire la sicurezza e la conformità. Le ricerche indicano che circa il 20% di tutti i difetti di produzione derivano da materiali inadeguati, il che sottolinea la necessità di tecniche di identificazione affidabili (Fonte: National Institute of Manufacturing): Istituto Nazionale di Standard e tecnologia). Questo articolo analizzerà le varie tecniche PMI comuni, tra cui la fluorescenza a raggi X (XRF), la spettroscopia di emissione ottica (OES) e la spettroscopia di ripartizione indotta da laser (LIBS), evidenziando anche l'importanza dei controlli non distruttivi (NDT) nel processo PMI. 

Punti Chiave

Identificazione positiva del materiale
L'identificazione positiva del materiale migliora l'integrità del materiale in progettazione del prodotto e ingegneria.
  • L'identificazione positiva del materiale garantisce l'integrità del materiale.
  • XRF, OES e LIBS sono metodi PMI efficienti.
  • I controlli non distruttivi preservano l'integrità del materiale.
  • La garanzia di qualità aumenta l'affidabilità e la sicurezza.
  • La conformità agli standard riduce i rischi normativi.
  • Le proprietà dei materiali variano a seconda delle applicazioni e dei settori industriali.

I controlli di qualità, attraverso le pratiche PMI, affrontano la conformità normativa e la valutazione delle proprietà dei materiali per diverse applicazioni industriali. I professionisti acquisiscono preziose conoscenze che sono fondamentali per mantenere elevati gli standard dei loro prodotti.

Tecniche PMI comuni

struttura cristallina
Esaminare la struttura cristallina interna del metallo grezzo per progettare materiali innovativi.

Le tecniche di identificazione positiva dei materiali (PMI) garantiscono la corretta identificazione dei materiali prima, durante e dopo i processi di produzione. Queste metodologie impiegano tecnologie avanzate per verificare la composizione elementare, prevenendo problemi come la commistione di materiali in applicazioni critiche. Utilizzando tecnologie spettroscopiche o a raggi X, le industrie possono rilevare le differenze nelle leghe con elevata specificità. Nel settore aerospaziale, uno studio ha indicato che 60% dei guasti nei componenti derivava da un'errata identificazione dei materiali.

Tra i metodi PMI più diffusi:

Spettroscopia di emissione ottica
Analisi dei materiali attraverso la spettroscopia di emissione ottica per l'innovazione dei prodotti.
  • Fluorescenza a raggi X (XRF): it is widely utilized due to its efficiency in determining elemental compositions of materials. It operates by irradiating a sample with X-rays, which excites the atoms and causes them to emit fluorescent X-rays. These emitted X-rays are then analyzed to ascertain the elemental composition. XRF is particularly valuable for its rapid results, often allowing for real-time assessments, making it a preferred method in the metals recycling industry, where differentiating between alloys can have economic implications. The technique can detect elements from sodium (Na) to uranium (U) with part-per-million sensitivity
  • Grafico della spettroscopia di emissione ottica (OES): offre un altro approccio robusto, soprattutto per i metalli. Sottoponendo un materiale a un arco o a una scintilla ad alta energia, l'OES eccita gli atomi che successivamente emettono luce. Lo spettro della luce emessa viene analizzato, consentendo un'identificazione precisa del contenuto elementare. Questo metodo è particolarmente efficace per le leghe, raggiungendo livelli di precisione fino a 0,01%. L'OES è spesso utilizzato per l'assicurazione della qualità metallurgica, dove le proprietà coerenti dei materiali sono fondamentali.
  • Spettroscopia di decomposizione indotta da laser (LIBS): sembra promettente per l'analisi di una serie di materiali, tra cui metalli, ceramiche e vetri. In questo metodo, un impulso laser ad alta energia ablaziona il materiale dalla superficie, creando un plasma che emette luce. L'analisi di questa luce fornisce informazioni sulla composizione elementare, in grado di rilevare elementi dall'idrogeno (H) all'uranio (U) a livelli di traccia. Il LIBS è stato efficacemente utilizzato in applicazioni sul campo, come la valutazione dei contaminanti metallici nel suolo, creando un vantaggio nelle valutazioni ambientali rispetto ai metodi tradizionali.

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Mancia: La calibrazione regolare dei dispositivi PMI migliora l'accuratezza e l'affidabilità. Implementare controlli di routine con materiali di riferimento certificati per mantenere elevati gli standard di misurazione.

Mancia: Per un'analisi rapida in loco si può scegliere l'XRF, mentre l'OES offre una maggiore precisione per i laboratori. Il LIBS è utile quando si ha a che fare con materiali diversi.

TecnicaIndustrie principali
e applicazioni
ProfessionistiControLimite di rilevamento
Fluorescenza a raggi X (XRF)Rottami metallici smistamento, alloy analysis, mining and geology, quality control in manufacturing, environmental monitoring.

Non distruttivo, lascia il campione intatto.

Risultati rapidi, spesso quasi istantanei risultati per l'identificazione qualitativa.

Portatile e facile da usare, preparazione minima del campione.

Ampia gamma di elementi rilevabili, in particolare i metalli più pesanti.

Può analizzare solidi, liquidi e polveri.

Rilevazione limitata di elementi leggeri (ad esempio, Li, Be, B).

Si tratta principalmente di una tecnica di analisi delle superfici; i rivestimenti o la contaminazione superficiale possono influenzare i risultati.

L'accuratezza può essere influenzata dagli effetti della matrice (la composizione del campione influenza la fluorescenza).

I limiti di rilevazione per alcuni elementi in traccia potrebbero essere più elevati rispetto all'OES.

La massima accuratezza richiede spesso standard di riferimento simili al campione.

Da sub-ppm a 100 ppm per la maggior parte degli elementi, a seconda dell'elemento e dello strumento (EDXRF vs WDXRF).

In genere, gli elementi più pesanti hanno limiti di rilevazione migliori. Per i microcampioni e i film sottili, può essere di 2-20 ng/cm².

Spettroscopia di emissione ottica (OES)Produzione e lavorazione dei metalli (ad esempio, acciaio, alluminio), settore automobilistico, aerospaziale, fonderie, controllo qualità dove è necessaria un'elevata precisione.

Altamente accurata e precisa, soprattutto per gli elementi in traccia e gli elementi leggeri (ad esempio, C, N, P, S, B).

Ampia gamma di elementi, compresi quelli pesanti e leggeri.

Fornisce un'analisi approfondita della composizione delle leghe.

Può analizzare carbonio e azoto in loco.

Veloce, da 3 a 30 secondi per un'analisi quantitativa completa.

In genere richiede una preparazione del campione (ad esempio, macinazione, lucidatura).

In genere non sono portatili; le apparecchiature sono spesso di grandi dimensioni e adatte agli ambienti di laboratorio.

Costi iniziali delle apparecchiature più elevati rispetto a XRF o LIBS.

Lascia un piccolo segno di bruciatura sul campione (distruttivo).

Può essere influenzato da interferenze spettrali in matrici complesse.

Limiti di rilevamento molto bassi, in grado di misurare elementi in traccia fino a livelli ppm o addirittura sub-ppm a seconda dell'elemento e della matrice.

Per alcuni elementi come Be, Mg, Ca, Sr, Ba, possono essere decine di parti per trilione (pg/mL) in soluzione (ICP-OES).

Spettroscopia di ripartizione indotta da laser (LIBS)Selezione dei metalli e identificazione dei materiali in loco (ad esempio, riciclaggio dei rottami), settore aerospaziale (analisi degli elementi leggeri), produzione di batterie, esplorazione geologica, settore industriale. controllo di processo.

Estremamente veloce, l'analisi di un singolo punto richiede solitamente pochi secondi.

Altamente portatile e versatile per l'uso sul campo.

Eccellente nel rilevare elementi leggeri (ad esempio, Li, Be, B, C).

Non è necessaria alcuna preparazione del campione.

Può analizzare un'ampia gamma di materiali (metalli, plastica, terreni, tessuti biologici).

I limiti di rilevazione non sono generalmente bassi come quelli dell'OES o di alcune applicazioni XRF.

L'accuratezza e la riproducibilità possono essere influenzate dagli effetti della matrice e dall'eterogeneità del campione.

Lascia un piccolo cratere di ablazione sulla superficie del campione (microdistruttivo).

La calibrazione può essere complessa e può richiedere standard abbinati alla matrice.

Le caratteristiche del plasma possono essere influenzate dall'atmosfera ambientale.

In genere, per gli elementi metallici pesanti, l'intervallo è di pochi ppm (1-100 ppm). Può variare significativamente a seconda dell'elemento, della matrice e della specifica configurazione LIBS.

Per alcuni elementi in matrici specifiche, i LOD possono essere migliorati (ad esempio, pochi ppm per Cr, Cu, Mn, Mg nelle leghe di alluminio).

Prove non distruttive in un'efficace PMI

Test non distruttivi
Un metodo per valutare l'integrità dei materiali senza causare danni.

Non-destructive testing (NDT) methods serve a pivotal function in material identification, allowing professionals to discern material properties without inflicting damage. Techniques such as ultrasuoni testing and radiography provide insights into the integrity and composition of materials. These methods can effectively identify flaws such as cracks or inclusions, which might compromise performance and are essential for assuring safety in critical...

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    Argomenti trattati: Identificazione dei materiali, identificazione positiva dei materiali, PMI, fluorescenza a raggi X, XRF, spettroscopia di emissione ottica, OES, spettroscopia di ripartizione indotta da laser, LIBS, controlli non distruttivi, NDT, garanzia di qualità, conformità normativa, composizione elementare, tecniche spettroscopiche, difetti di produzione, integrità dei materiali, ASTM E2923, ISO 15156, ASTM E1479 e ISO 17025.

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