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शेवर्ट नियंत्रण चार्ट

1924
  • Walter A. Shewhart
Shewhart Control Chart for process monitoring in quality control.

(यह छवि केवल उदाहरण के लिए बनाई गई है)

एक ग्राफिकल टूल जिसका उपयोग किया जाता है SPC to monitor a process variable over time. It plots data points between a central line (CL), representing the process average, and upper (UCL) and lower (LCL) control limits. These limits are typically set at three standard deviations from the mean ([latex]\mu \pm 3\sigma[/latex]), defining the range of expected common cause variation.

नियंत्रण चार्ट प्राथमिक उपकरण है सांख्यिकीय प्रक्रिया नियंत्रण. Invented by Walter A. Shewhart, it serves as a visual method to distinguish between common and special cause variation in a process. A typical chart has a time-based x-axis and a measurement-based y-axis. Three horizontal lines are crucial: the Center Line (CL), which is the statistical average of the process data; the Upper Control Limit (UCL); and the Lower Control Limit (LCL). These control limits are not arbitrary goals or specification limits set by customers. Instead, they are calculated directly from the process data itself, representing the “voice of the process.”

इन सीमाओं की मानक गणना प्रक्रिया माध्य (μ) और मानक विचलन (σ) पर आधारित है, जिसमें UCL μ + 3σ और LCL μ ≤ 3σ है। तीन मानक विचलनों का उपयोग सांख्यिकीय और आर्थिक दृष्टि से उचित है; यह प्रक्रिया परिवर्तन का पता लगाने में विफलता (टाइप II त्रुटि) और गलत अलार्म (टाइप I त्रुटि) के जोखिम के बीच संतुलन स्थापित करता है। जब डेटा बिंदु इन सीमाओं के भीतर आते हैं और एक यादृच्छिक पैटर्न प्रदर्शित करते हैं, तो प्रक्रिया को सांख्यिकीय नियंत्रण में माना जाता है। हालांकि, यदि कोई बिंदु सीमाओं से बाहर आता है, या यदि सीमाओं के भीतर के बिंदु एक गैर-यादृच्छिक पैटर्न (जैसे वेस्टर्न इलेक्ट्रिक रूल्स द्वारा परिभाषित) दिखाते हैं, तो यह भिन्नता के एक विशेष कारण की उपस्थिति का संकेत देता है जिसकी जांच आवश्यक है।

UNESCO Nomenclature: 1209
सांख्यिकी

Type

सॉफ्टवेयर/एल्गोरिदम

व्यवधान

संतोषजनक

उपयोग

व्यापक उपयोग

शगुन

  • रन चार्ट (टाइम सीरीज़ प्लॉट)
  • मानक विचलन की अवधारणा (कार्ल पियर्सन)
  • सांख्यिकीय नमूनाकरण का सिद्धांत
  • सामान्य और विशेष कारण भिन्नता के बीच अंतर (वाल्टर ए. शेवर्ट)

आवेदन

  • विनिर्माण प्रक्रिया की निगरानी (जैसे, पुर्जों के आयाम, वजन)
  • सेवा उद्योग के प्रदर्शन की निगरानी (जैसे, कॉल प्रतीक्षा समय, त्रुटि दर)
  • स्वास्थ्य सेवा रोगी निगरानी (जैसे, रक्तचाप, संक्रमण दर)
  • सॉफ्टवेयर प्रदर्शन की निगरानी (जैसे, सर्वर प्रतिक्रिया समय, बग रिपोर्ट)
  • वित्तीय लेखापरीक्षा (उदाहरण के लिए, व्यय रिपोर्ट में भिन्नताएँ)

पेटेंट:

NA

संभावित नवाचार विचार

  • interactive, real-time control charts for live आईओटी data streams
  • जटिल प्रणाली स्वास्थ्य निगरानी के लिए बहु-चर नियंत्रण चार्ट
  • अनियंत्रित पैटर्न को स्वचालित रूप से वर्गीकृत करने के लिए मशीन लर्निंग एल्गोरिदम
  • गुणवत्ता नियंत्रण में कर्मचारियों के प्रशिक्षण के लिए गेमिफाइड कंट्रोल चार्ट
  • संवर्धित वास्तविकता overlays of control charts on factory machinery
  • सोशल मीडिया भावना रुझानों की निगरानी के लिए नियंत्रण चार्ट
  • बायोमेट्रिक डेटा के लिए कंट्रोल चार्ट का उपयोग करके वैयक्तिकृत स्वास्थ्य डैशबोर्ड
  • साइक्लोमैटिक कॉम्प्लेक्सिटी जैसे मेट्रिक्स के लिए कंट्रोल चार्ट का उपयोग करके स्वचालित कोड गुणवत्ता निगरानी।
  • समय के साथ एआई मॉडल के प्रदर्शन में होने वाले बदलाव को ट्रैक करने और सुधारने के लिए नियंत्रण चार्ट।
  • आपूर्ति श्रृंखला गुणवत्ता ऑडिट के लिए ब्लॉकचेन-आधारित अपरिवर्तनीय नियंत्रण चार्ट
संबंधित विषय: नियंत्रण चार्ट, शेवर्ट चार्ट, ऊपरी नियंत्रण सीमा, निचली नियंत्रण सीमा, केंद्र रेखा, तीन-सिग्मा सीमाएं, प्रक्रिया निगरानी, ​​एसपीसी, गुणवत्ता नियंत्रण, सांख्यिकीय विश्लेषण।

ऐतिहासिक संदर्भ

शेवर्ट नियंत्रण चार्ट

1900
1911
1920
1924
1925
1930
1931
1900
1903
1914
1922
1925
1928
1930
1936

(यदि तिथि अज्ञात है या प्रासंगिक नहीं है, उदाहरण के लिए "द्रव यांत्रिकी", तो इसके उल्लेखनीय उद्भव का एक अनुमानित आंकड़ा प्रदान किया गया है)

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