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पुनरावृत्ति सीमा (सांख्यिकी)

1980
  • International Organization for Standardization (ISO)
Precision analytical instrument in a laboratory for measuring repeatability limit.

(यह छवि केवल उदाहरण के लिए बनाई गई है)

पुनरावर्तनीयता सीमा, r, पुनरावर्तनीयता मानक विचलन (s_r) से प्राप्त एक महत्वपूर्ण मान है। यह पुनरावर्तनीयता की स्थितियों में 95% प्रायिकता के साथ प्राप्त दो एकल परीक्षण परिणामों के बीच अधिकतम अपेक्षित निरपेक्ष अंतर को दर्शाता है। इसकी गणना आमतौर पर r = 2.8 × s_r के रूप में की जाती है। यदि अंतर r से अधिक हो जाता है, तो परिणाम संदिग्ध माने जाते हैं।

पुनरावृत्ति सीमा दो परीक्षण परिणामों की स्वीकार्यता का आकलन करने के लिए एक व्यावहारिक उपकरण प्रदान करती है। इसका सांख्यिकीय आधार सामान्य वितरण के गुणों में निहित है। मानक विचलन [latex]s_r[/latex] वाले समान सामान्य वितरण से लिए गए दो मापों के बीच का अंतर भी शून्य माध्य और [latex]sqrt{s_r^2 + s_r^2} = sqrt{2}s_r[/latex] के मानक विचलन के साथ सामान्य रूप से वितरित होता है। इन अंतरों के 95% को शामिल करने के लिए, हम एक कवरेज कारक का उपयोग करते हैं। एक सामान्य वितरण के लिए, यह कारक लगभग 1.96 होता है। इसलिए, 95% सीमा [latex]1.96 times sqrt{2} times s_r approx 2.77s_r[/latex] है, जिसे ISO 5725 जैसे मानकों में सरलता के लिए अक्सर [latex]2.8s_r[/latex] तक पूर्णांकित किया जाता है।

अधिक सटीक गणना के लिए स्टूडेंट के टी-वितरण का उपयोग किया जाता है, विशेष रूप से जब s_r का अनुमान कम संख्या में मापों से लगाया जाता है। सूत्र इस प्रकार है: r = t_{(1-α/2, μ)} × √2 × s_r, जहाँ t_{(1-α/2, μ)} टी-वितरण से क्रांतिक मान है, जो 1-α (उदाहरण के लिए, 95%) के विश्वास स्तर और s_r का अनुमान लगाने के लिए उपयोग की जाने वाली μ डिग्री स्वतंत्रता के लिए है। व्यवहार में, यदि कोई प्रयोगशाला एक ही नमूने पर दो परीक्षण करती है और अंतर [latex]r[/latex] से अधिक होता है, तो यह प्रक्रियात्मक त्रुटियों, नमूना संदूषण, या उपकरण की खराबी जैसी संभावित समस्याओं की जांच करने का संकेत है।

UNESCO Nomenclature: 1209
सांख्यिकी

Type

सार प्रणाली

व्यवधान

संतोषजनक

उपयोग

व्यापक उपयोग

शगुन

  • 1930 के दशक में जेरज़ी नेमैन और एगॉन पियर्सन द्वारा विकसित विश्वास अंतराल
  • विलियम सीली गोसेट (स्टूडेंट) द्वारा 1908 में प्रकाशित छात्र का टी-डिस्ट्रीब्यूशन
  • मापन विधियों और परिणामों की सटीकता (सच्चाई और परिशुद्धता) पर ISO 5725 मानक

आवेदन

  • प्रयोगशाला में दोहराए गए मापों की संगति की जाँच करना
  • विश्लेषणात्मक उपकरणों के लिए प्रदर्शन विनिर्देशों को परिभाषित करना
  • प्रक्रिया स्थिरता की निगरानी के लिए गुणवत्ता नियंत्रण चार्ट
  • फार्मास्युटिकल और पर्यावरणीय परीक्षण में विनियामक अनुपालन
  • एक ही नमूने के दो मापों के बीच विवादों का समाधान करना

पेटेंट:

NA

संभावित नवाचार विचार

  • प्रयोगशाला सूचना प्रबंधन प्रणालियों (एलआईएमएस) में असंगत परिणामों की स्वचालित रूप से पहचान करना
  • smart instruments that refuse to log a second measurement if it differs from the first by more than [latex]r[/latex] without an override
  • dynamic calculation of [latex]r[/latex] based on a rolling window of recent quality control data
  • फील्ड तकनीशियनों के लिए मोबाइल ऐप, जिससे वे आसानी से जांच सकें कि डुप्लिकेट रीडिंग स्वीकार्य सीमा के भीतर हैं या नहीं।
  • कृत्रिम बुद्धिमत्ता प्रणाली जो दोहराव सीमा के उल्लंघन के पैटर्न का विश्लेषण करके उपकरण की विफलता का पूर्वानुमान लगाती है।
  • डेटा गुणवत्ता मानकों को लागू करने के लिए इलेक्ट्रॉनिक लैब नोटबुक में दोहराव सीमा का एकीकरण
  • शैक्षिक सिमुलेटर जो छात्रों को पुनरावृत्ति सीमाओं की व्याख्या करने का प्रशिक्षण देते हैं
  • आपूर्ति श्रृंखला प्रणालियाँ जो विभिन्न चेकपॉइंट पर उत्पाद की गुणवत्ता को सत्यापित करने के लिए दोहराव सीमा का उपयोग करती हैं
संबंधित विषय: पुनरावृति सीमा, महत्वपूर्ण अंतर, गुणवत्ता नियंत्रण, आईएसओ 5725, सांख्यिकीय अनुमान, विश्वास अंतराल, परिशुद्धता, माप।

ऐतिहासिक संदर्भ

पुनरावृत्ति सीमा (सांख्यिकी)

1970-01-01
1975-06-01
1980
1980
1980
1982-07-01
1988-06-01
1970
1973
1980
1980
1980
1980
1986-01-01
1990

(यदि तिथि अज्ञात है या प्रासंगिक नहीं है, उदाहरण के लिए "द्रव यांत्रिकी", तो इसके उल्लेखनीय उद्भव का एक अनुमानित आंकड़ा प्रदान किया गया है)

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