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फोटोवोल्टेइक में फिल फैक्टर

1960
विद्युत अभियांत्रिकी में फिल फैक्टर मापन पर ध्यान केंद्रित करते हुए सौर सेल का प्रयोगशाला परीक्षण।

(यह छवि केवल उदाहरण के लिए बनाई गई है)

फिल फैक्टर (FF) एक प्रमुख पैरामीटर है जो सौर सेल की गुणवत्ता निर्धारित करता है। यह किसी सेल द्वारा उत्पादित अधिकतम शक्ति (Pmax) और आदर्श वोल्टेज और करंट स्रोत होने पर प्राप्त सैद्धांतिक शक्ति (Voc × Isc) का अनुपात है। उच्च फिल फैक्टर कम परजीवी प्रतिरोध हानि और अधिक वर्गाकार IV वक्र को दर्शाता है।

The Fill Factor (FF) is a crucial figure of merit for a solar cell, providing a quick measure of its overall performance and quality, independent of its size or the light intensity. It is defined by the equation: [latex]FF = \frac{P_{max}}{V_{oc} \times I_{sc}} = \frac{V_{mp} \times I_{mp}}{V_{oc} \times I_{sc}}[/latex]. Here, [latex]V_{oc}[/latex] is the open-circuit voltage (the voltage across the cell with no load), and [latex]I_{sc}[/latex] is the short-circuit current (the current through the cell when the terminals are shorted). The product [latex]V_{oc} \times I_{sc}[/latex] represents the theoretical maximum power the cell could deliver if its I-V curve were a perfect rectangle.

वास्तव में, डायोड की विशेषताओं और परजीवी प्रतिरोधों के कारण IV वक्र घुमावदार होता है। इस वक्र पर वह बिंदु जहाँ वोल्टेज और धारा का गुणनफल (V × I) अधिकतम होता है, अधिकतम शक्ति बिंदु (MPP) कहलाता है। इस बिंदु पर वोल्टेज और धारा क्रमशः Vmp और Imp होते हैं। फिल फैक्टर मूलतः यह मापता है कि IV वक्र कितना वर्गाकार है। एक आदर्श सेल का फिल फैक्टर 1 (या 100%) होता है, लेकिन व्यावसायिक सिलिकॉन सेलों के लिए व्यावहारिक मान आमतौर पर 0.75 से 0.85 (75% से 85%) की सीमा में होते हैं।

फिल फैक्टर परजीवी श्रृंखला (R_s) और शंट (R_sh) प्रतिरोधों के प्रति अत्यधिक संवेदनशील होता है। उच्च श्रृंखला प्रतिरोध अधिकतम शक्ति बिंदु पर धारा को कम करता है और IV वक्र के "घुमावदार" कोण को कम करता है, जिससे फिल फैक्टर (FF) कम हो जाता है। कम शंट प्रतिरोध धारा के रिसाव का मार्ग प्रदान करता है, जिससे I_mp और I_sc के निकट IV वक्र का ढलान कम हो जाता है, जो फिल फैक्टर (FF) को भी कम करता है। इसलिए, फिल फैक्टर की निगरानी सौर सेल में गिरावट या विनिर्माण दोषों का पता लगाने का एक प्रभावी तरीका है।

UNESCO Nomenclature: 3307
विद्युत इंजीनियरिंग

Type

प्रदर्शन मीट्रिक

व्यवधान

इंक्रीमेंटल

उपयोग

व्यापक उपयोग

शगुन

  • इलेक्ट्रॉनिक उपकरणों के (iv) धारा-वोल्टेज गुणों की समझ
  • सौर सेल समतुल्य परिपथ मॉडल का विकास
  • पहले व्यावहारिक सौर सेल का आविष्कार

आवेदन

  • quality control in solar panel manufacturing
  • नए सौर सेल सामग्रियों और संरचनाओं का लक्षण वर्णन
  • उच्च श्रृंखला प्रतिरोध या निम्न शंट प्रतिरोध जैसी प्रदर्शन संबंधी समस्याओं का निदान करना
  • विभिन्न फोटोवोल्टिक प्रौद्योगिकियों के प्रदर्शन की तुलना करना

पेटेंट:

NA

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संबंधित विषय: फिल फैक्टर, सोलर सेल, आईवी कर्व, अधिकतम पावर पॉइंट, ओपन-सर्किट वोल्टेज, शॉर्ट-सर्किट करंट, पैरासिटिक रेजिस्टेंस, दक्षता।

ऐतिहासिक संदर्भ

फोटोवोल्टेइक में फिल फैक्टर

1950
1955
1958
1960
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1955
1956
1960
1960
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(यदि तिथि अज्ञात है या प्रासंगिक नहीं है, उदाहरण के लिए "द्रव यांत्रिकी", तो इसके उल्लेखनीय उद्भव का एक अनुमानित आंकड़ा प्रदान किया गया है)

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