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शेवर्ट नियंत्रण चार्ट

1924
  • Walter A. Shewhart
गुणवत्ता नियंत्रण में प्रक्रिया निगरानी के लिए श्वहार्ट नियंत्रण चार्ट।.

(यह छवि केवल उदाहरण के लिए बनाई गई है)

एक ग्राफिकल टूल जिसका उपयोग किया जाता है SPC समय के साथ किसी प्रक्रिया चर की निगरानी करने के लिए। यह प्रक्रिया औसत का प्रतिनिधित्व करने वाली केंद्रीय रेखा (CL) और ऊपरी (UCL) और निचली (LCL) नियंत्रण सीमाओं के बीच डेटा बिंदुओं को प्लॉट करता है। ये सीमाएँ आमतौर पर माध्य से तीन मानक विचलन (μ ± 3 σ) पर निर्धारित की जाती हैं, जो अपेक्षित सामान्य कारण भिन्नता की सीमा को परिभाषित करती हैं।

The control chart is the primary instrument of Statistical Process Control. Invented by Walter A. Shewhart, it serves as a visual method to distinguish between common and special cause variation in a process. A typical chart has a time-based x-axis and a measurement-based y-axis. Three horizontal lines are crucial: the Center Line (CL), which is the statistical average of the process data; the Upper Control Limit (UCL); and the Lower Control Limit (LCL). These control limits are not arbitrary goals or specification limits set by customers. Instead, they are calculated directly from the process data itself, representing the “voice of the process.”

The standard calculation for these limits is based on the process mean ([latex]\mu[/latex]) and standard deviation ([latex]\sigma[/latex]), with the UCL at [latex]\mu + 3\sigma[/latex] and the LCL at [latex]\mu – 3\sigma[/latex]. The use of three standard deviations is a statistical and economic choice; it balances the risk of failing to detect a process shift (a Type II error) with the risk of a false alarm (a Type I error). When data points fall within these limits and exhibit a random pattern, the process is considered “in statistical control.” However, if a point falls outside the limits, or if the points within the limits show a non-random pattern (as defined by rules like the Western Electric Rules), it signals the presence of a special cause of variation that requires investigation.

UNESCO Nomenclature: 1209
सांख्यिकी

Type

सॉफ्टवेयर/एल्गोरिदम

व्यवधान

संतोषजनक

उपयोग

व्यापक उपयोग

शगुन

  • रन चार्ट (टाइम सीरीज़ प्लॉट)
  • मानक विचलन की अवधारणा (कार्ल पियर्सन)
  • सांख्यिकीय नमूनाकरण का सिद्धांत
  • सामान्य और विशेष कारण भिन्नता के बीच अंतर (वाल्टर ए. शेवर्ट)

आवेदन

  • विनिर्माण प्रक्रिया की निगरानी (जैसे, पुर्जों के आयाम, वजन)
  • सेवा उद्योग के प्रदर्शन की निगरानी (जैसे, कॉल प्रतीक्षा समय, त्रुटि दर)
  • स्वास्थ्य सेवा रोगी निगरानी (जैसे, रक्तचाप, संक्रमण दर)
  • सॉफ्टवेयर प्रदर्शन की निगरानी (जैसे, सर्वर प्रतिक्रिया समय, बग रिपोर्ट)
  • वित्तीय लेखापरीक्षा (उदाहरण के लिए, व्यय रिपोर्ट में भिन्नताएँ)

पेटेंट:

NA

संभावित नवाचार विचार

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संबंधित विषय: नियंत्रण चार्ट, शेवर्ट चार्ट, ऊपरी नियंत्रण सीमा, निचली नियंत्रण सीमा, केंद्र रेखा, तीन-सिग्मा सीमाएं, प्रक्रिया निगरानी, ​​एसपीसी, गुणवत्ता नियंत्रण, सांख्यिकीय विश्लेषण।

ऐतिहासिक संदर्भ

शेवर्ट नियंत्रण चार्ट

1900
1903
1914
1924
1925
1930
1931
1899
1900
1911
1922
1925
1928
1930
1936

(यदि तिथि अज्ञात है या प्रासंगिक नहीं है, उदाहरण के लिए "द्रव यांत्रिकी", तो इसके उल्लेखनीय उद्भव का एक अनुमानित आंकड़ा प्रदान किया गया है)

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