(यह छवि केवल उदाहरण के लिए बनाई गई है)
फेज़्ड ऐरे अल्ट्रासोनिक परीक्षण (PAUT) में एक बहु-तत्वीय ट्रांसड्यूसर का उपयोग किया जाता है, जिसमें प्रत्येक तत्व को कंप्यूटर द्वारा निर्धारित सटीक समय विलंब के साथ स्वतंत्र रूप से स्पंदित किया जाता है। इस फेज़िंग को नियंत्रित करके, परिणामी अल्ट्रासोनिक बीम को प्रोब को भौतिक रूप से हिलाए बिना इलेक्ट्रॉनिक रूप से निर्देशित, केंद्रित और स्कैन किया जा सकता है। यह दोषों, विशेष रूप से जटिल ज्यामितियों में, का तीव्र और विस्तृत चित्रण प्रदान करता है, जो पारंपरिक एकल-तत्वीय तकनीकों से कहीं बेहतर है।
PAUT का मूल सिद्धांत ह्यूजेन्स के सिद्धांत के अनुसार तरंगों का रचनात्मक और विनाशकारी व्यतिकरण है। एक PAUT प्रोब में छोटे-छोटे, अलग-अलग ट्रांसड्यूसर तत्वों की एक श्रृंखला होती है (16 से 256 या इससे अधिक)। एक कंप्यूटर-नियंत्रित उपकरण प्रत्येक तत्व को सटीक समय पर विद्युत स्पंद भेजता है। यदि सभी तत्वों को एक साथ स्पंदित किया जाता है, तो वे एक मानक, सीधी अल्ट्रासोनिक किरण उत्पन्न करते हैं। हालांकि, आसन्न तत्वों के स्पंदन के बीच सूक्ष्म समय अंतराल रखकर, प्रोब के छिद्र में एक चरण विस्थापन उत्पन्न किया जाता है।
इस फेज़ शिफ्ट के कारण अलग-अलग तरंगें इस प्रकार परस्पर क्रिया करती हैं कि संयुक्त तरंग किसी कोण पर निर्देशित होती है या किसी विशिष्ट गहराई पर केंद्रित होती है। उदाहरण के लिए, सरणी के एक सिरे से दूसरे सिरे तक स्पंदों में क्रमिक विलंब करके, किरण को विभिन्न कोणों से गुजारा जा सकता है, जिससे एक "सेक्टोरियल स्कैन" या एस-स्कैन बनता है। इससे एक ही जांच बिंदु से बड़ी मात्रा में सामग्री का निरीक्षण किया जा सकता है। इसी प्रकार, परवलयिक समय पैटर्न लागू करके, किरण को केंद्रित किया जा सकता है, जिससे इसकी तीव्रता बढ़ती है और किसी विशिष्ट गहराई पर रिज़ॉल्यूशन में सुधार होता है।
यह इलेक्ट्रॉनिक नियंत्रण अत्यधिक लचीलापन और गति प्रदान करता है। एरे की लंबाई के साथ इलेक्ट्रॉनिक स्कैनिंग और एंगुलर स्वीप को मिलाकर पूरे वेल्ड का तेजी से निरीक्षण किया जा सकता है। डेटा अक्सर आसानी से समझने योग्य 2D या 3D रंग-कोडित छवियों (S-स्कैन, C-स्कैन) में प्रस्तुत किया जाता है, जो पारंपरिक UT के साधारण A-स्कैन की तुलना में दोष के स्थान और आकार का अधिक सहज प्रतिनिधित्व प्रदान करते हैं।
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फेज़्ड ऐरे अल्ट्रासोनिक टेस्टिंग (PAUT)
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