Fluorescenza a raggi X (XRF)

Fluorescenza a raggi X (XRF) è una tecnica analitica non distruttiva utilizzata per determinare la composizione elementare dei materiali misurando i caratteristici raggi X fluorescenti emessi da un campione quando questo viene eccitato da una sorgente di raggi X. Questo metodo è ampiamente utilizzato nella progettazione dei prodotti e nel controllo di qualità per garantire la conformità alle norme di sicurezza e alle specifiche dei materiali, in particolare in settori quali l'elettronica, la produzione e l'analisi ambientale. Fornendo analisi elementari rapide e accurate, l'XRF facilita l'innovazione e il processo decisionale informato durante i processi di ricerca e produzione.