Fluorescencia de rayos X (FRX)

La fluorescencia de rayos X (XRF) es una técnica analítica no destructiva utilizada para determinar la composición elemental de los materiales mediante la medición de los rayos X fluorescentes característicos emitidos por una muestra cuando es excitada por una fuente de rayos X. Este método se utiliza ampliamente en el diseño de productos y el control de calidad para garantizar el cumplimiento de las normas de seguridad y las especificaciones de los materiales, especialmente en sectores como la electrónica, la fabricación y el análisis medioambiental. Al proporcionar un análisis elemental rápido y preciso, el FRX facilita la innovación y la toma de decisiones informadas a lo largo de los procesos de investigación y producción.