بيت » Phased Array Ultrasonic Testing (PAUT)

Phased Array Ultrasonic Testing (PAUT)

1980
Technician conducting Phased Array Ultrasonic Testing on a metal component in a factory.

Phased Array Ultrasonic Testing (PAUT) employs a multi-element transducer where each element is pulsed independently with precise, computer-calculated time delays. By controlling this phasing, the resulting ultrasonic beam can be electronically steered, focused, and scanned without physically moving the probe. This provides rapid, detailed imaging of flaws, especially in complex geometries, surpassing conventional single-element techniques.

The core principle behind PAUT is the constructive and destructive interference of wavelets, as described by Huygens’ principle. A PAUT probe consists of an array of small, individual transducer elements (from 16 to 256 or more). A computer-controlled instrument sends out precisely timed electrical pulses to each element. If all elements are pulsed simultaneously, they produce a standard, straight ultrasonic beam. However, by introducing minute time delays between the firing of adjacent elements, a phase shift is created across the probe’s aperture.

This phase shift causes the individual wavelets to interfere in such a way that the combined wavefront is steered at an angle or focused to a specific depth. For example, by progressively delaying the pulses from one end of the array to the other, the beam can be swept through a range of angles, creating a ‘sectorial scan’ or S-scan. This allows a large volume of material to be inspected from a single probe position. Similarly, by applying a parabolic timing pattern, the beam can be focused, increasing its intensity and improving resolution at a specific depth.

This electronic control offers immense flexibility and speed. An entire weld can be inspected rapidly by combining electronic scanning along the array’s length with the angular sweep. The data is often presented in easy-to-interpret 2D or 3D color-coded images (S-scans, C-scans), which provide a more intuitive representation of flaw location and size compared to the simple A-scan of conventional UT.

UNESCO Nomenclature: 3322
- علم المواد

النوع

Testing Method

الاضطراب

كبير

الاستخدام

الاستخدام الواسع النطاق

السلائف

  • phased array antenna technology developed for radar and sonar
  • advances in microelectronics and digital معالجة الإشارات for controlling many channels
  • conventional single-element ultrasonic testing methods
  • Huygens’ principle of wave propagation

التطبيقات

  • weld inspection in nuclear power plants and pipelines
  • aerospace industry for inspecting composite structures and friction stir welds
  • medical imaging, particularly in echocardiography and obstetrics
  • corrosion mapping in petrochemical storage tanks and piping
  • inspection of complex-geometry components like turbine blades

براءات الاختراع:

NA

أفكار ابتكارات محتملة

!!مستويات !!! العضوية مطلوبة

يجب أن تكون عضوًا !!! مستويات!!! للوصول إلى هذا المحتوى.

انضم الآن

هل أنت عضو بالفعل؟ سجّل الدخول هنا
Related to: phased array, PAUT, beam steering, beamforming, NDT, ultrasonic imaging, transducer array, weld inspection, non-destructive testing, electronic scanning.

اترك تعليقاً

لن يتم نشر عنوان بريدك الإلكتروني. الحقول الإلزامية مشار إليها بـ *

متاح للتحديات الجديدة
مهندس ميكانيكي، مشروع، هندسة العمليات أو مدير البحث والتطوير
تطوير المنتج الفعال

متاح لتحدي جديد في غضون مهلة قصيرة.
تواصل معي على LinkedIn
تكامل الإلكترونيات المعدنية والبلاستيكية، التصميم مقابل التكلفة، ممارسات التصنيع الجيدة (GMP)، بيئة العمل، الأجهزة والمواد الاستهلاكية متوسطة إلى عالية الحجم، التصنيع المرن، الصناعات الخاضعة للتنظيم، شهادات CE وFDA، التصميم بمساعدة الحاسوب (CAD)، Solidworks، الحزام الأسود من Lean Sigma، شهادة ISO 13485 الطبية

نحن نبحث عن راعي جديد

 

هل شركتك أو مؤسستك متخصصة في التقنية أو العلوم أو الأبحاث؟
> أرسل لنا رسالة <

احصل على جميع المقالات الجديدة
مجاني، لا يوجد بريد عشوائي، ولا يتم توزيع البريد الإلكتروني ولا إعادة بيعه

أو يمكنك الحصول على عضويتك الكاملة -مجانًا- للوصول إلى جميع المحتويات المحظورة >هنا<

الاختراع والابتكار والمبادئ التقنية ذات الصلة

Scroll to Top

قد يعجبك أيضاً